NV-F3200

更快的測量速度

全新的智能獨特算法和全新的相機使一切變得比以前更快了。

以101.5um/sec的速度收集數據,通過最快的面積測量系統提供便利。

易於使用

NanoView結合了直觀的視覺工作流程與實現快速、

全面收集和分析數據的廣泛的用戶定義自動化能及智能型體系結構

提供行業能及簡化的用戶圖形介面。