可以進行大面積測量

WIDE SCANNER採用WSI方式，可進行高精密測量。

而且可一次性測定幾十毫米的Filed of View。此外，Z-axis Range也能測量幾毫米，

可全面應用於精密機械加工面、光學零件、Wafer、R&D等多個領域。

易於使用

NanoView結合了直觀的視覺工作流程與實現快速、

全面收集和分析數據的廣泛的用戶定義自動化功能及智慧型體系結構，