用於故障分析和大型樣品研究的領先納米計量工具
作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。Park NX20，這款全球最精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑藉著出色的數據準確性，在半導體和超平樣品行業中大受讚揚。

Park NX20具備獨特的功能，可以更輕鬆地找到設備故障的原因，並幫助客戶制定出更多具有創意的解決方案。無與倫比的精密度為您提供高分辨率數據，讓您能夠更加專注於工作。與此同時，其True Non-Contact™模式讓探針尖端更鋒利、更耐用，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。

ParkNX20擁有業界最為便捷的設計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力，也不用為此而時時不停的指導初學者。這使您可以更加專注於解決更為重大的問題，並為客戶提供及時且富有洞察力的故障分析報告。