Large Sample AFM

NX20

作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。

NX20 Lite

處理各種樣品的共享實驗室、進行多變體實驗的研究人員以及晶圓失效分析的工程師而言的理想選擇。

NX20_300mm

可用於300mm晶片圓測量和分析的頂級自動化納米測量工具。