Park HDM Series

對於媒介和基體領域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可藉助數量級實現自動缺陷識別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接，這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精準的次埃米表面粗糙度測量功能。憑藉著業內較低的本底噪聲和True Non-Contac技術，Park NX-HDM是目前市面上表面粗糙度測量較為精準的原子力顯微鏡。

更高的吞吐量，自動缺陷審查

對於媒介和基體領域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可藉助數量級實現自動缺陷識別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接，這就意味著自動缺陷檢查吞吐量會大幅提高。

亞埃表面粗糙度測量

業內對於超平面介質和基底的要求越來越高，所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精準的次埃米表面粗糙度測量功能。憑藉著業內較低的本底噪聲和True Non-Contact技術，Park NX-HDM是目前市面上表面粗糙度測量較為精準的原子力顯微鏡。